English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Семинар "Снабжение производства электроники. Управление рисками в каналах поставок"

Семинар "Снабжение производства электроники. Управление рисками в каналах поставок"

02.09.2017

Семинар "Снабжение производства электроники. Управление рисками в каналах поставок" пройдёт 14 сентября в Санкт-Петербурге.

Главная идея этого семинара в том, чтобы показать необходимость управления каналами поставок и цепочками поставщиков, а не только выбором контрагента.

Семинар посвящен анализу рисков, т.к. повысить надежность снабжения невозможно без понимания причин, из-за которых возникают проблемы. Через оценку рисков также легче понять, что снижение закупочных цен на комплектующие далеко не всегда приводит к снижению общей стоимости изделия. Повышение надежности снабжения через снижение различных рисков скорее приведет к экономии, чем выбор самого дешевого предложения на тендере.

Семинар будет интересен директорам производственных компаний, руководителям и сотрудникам отделов снабжения и закупок, планово-экономических и планово-диспетчерских отделов, менеджерам проектов электронной отрасли.

Место проведения: г. Санкт-Петербург, ул. Лодейнопольская, д. 5, Конгрессный Центр «ПетроКонгресс», зал «Нева А+В».

Подробная информация об участие, а также заявка на участие, доступные на сайте Центра Современной Электроники по данной ссылке.

www.sovel.org



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии