English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практический информационно-консультационный семинар «Метрологическое обеспечение производства»

Научно-практический информационно-консультационный семинар «Метрологическое обеспечение производства»

03.03.2018

Научно-практический информационно-консультационный семинар «Метрологическое обеспечение производства» пройдет с 21 по 23 марта 2018 в Москве.

Место проведения: Конференц-центр гостиницы «Измайлово Гамма-Дельта Отель». Измайловское ш., д. 71, корпус 4ГД.

Принять участие в семинаре приглашаются руководители предприятий, технические директора, специалисты проектных и монтажных организаций, представители энергопотребляющих организаций, специалисты служб учета и КИП, метрологи и главные энергетики предприятий, представители ЦСМов, производители средств автоматизации и метрологического оборудования, специалисты различных отраслей промышленности.

Программа семинара:

1. Основные положения метрологии.
1.1 Измерение как инструмент познания
1.2 Измерительные шкалы:
1.3 Единицы величин
• принципы построения,
• единицы величин, допущенные к применению в РФ.
1.4 Измерения. Признаки классификации
1.5 Методы измерений
1.6 Технические средства, применяемые для измерений, испытаний, контроля:
1.7 Аксиомы метрологии
1.8 Погрешности измерений:
• понятие погрешности измерений,
• признаки классификации погрешностей измерений,
• составляющие погрешности измерений (методические, инструментальные, субъективные),
• формы представления,
• погрешности средств измерений.
1.9 Введение в суммирование погрешностей
• суммирование систематических погрешностей,
• суммирование случайных погрешностей, заданных числовыми характеристиками
распределений,
• суммирование пределов погрешностей,
• композиция законов распределения.
1.10 Обработка результатов измерений (с примерами)
• обработка результатов прямых многократных измерений (способы проверки на промахи, поправки, методы обработки, правила округления при обработке)
• обработка результатов прямых однократных измерений
• обработка результатов косвенных измерений
• обработка результатов совместных и совокупных измерений.
1.11 Некоторые вопросы оценки неопределенности измерений (с примерами)

2. Законодательные основы обеспечения единства измерений: Федеральный закон «Об обеспечении единства измерений» от 26.06.2008 №102-ФЗ и подзаконные акты.
2.1 Измерения, относящиеся к сфере государственного регулирования ОЕИ
2.2 Требования к измерениям
2.3 Требования к эталонам единиц величин
2.4 Требования к единицам величин
2.5 Требования к стандартным образцам
2.6 Требования к средствам измерений
2.7 Технические устройства и системы с измерительными функциями
2.8 Утверждение типа средств измерений
2.9 Поверка средств измерений
2.10 Калибровка средств измерений
2.11 Метрологическая экспертиза технической документации
2.12 Аттестация методик (методов) измерений
2.13 Федеральный государственный метрологический надзор
2.14 Метрологические службы
2.15 Электронные ресурсы в области обеспечения единства измерений

3. Законодательные основы аккредитации в области обеспечения единства измерений: Федеральный закон «Об аккредитации в национальной системе аккредитации» от 28.12.2013 №412-ФЗ и подзаконные акты.
• Процедура аккредитации
• Методика определения размеров платы за проведение экспертизы … соответствия …
критериям аккредитации
• Критерии аккредитации в ОЕИ
• Перечень документов, подтверждающих соответствие критериям аккредитации

4.Ответы на вопросы, консультации.

Подробнее о семинаре

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии