English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(487)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(566)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(465)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

5-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии"

5-я Школа "Метрология и стандартизация в нанотехнологиях и наноиндустрии"

06.03.2012

5-я Школа является коммуникационной и образовательной площадкой, направленной на обсуждение актуальных проблем и повышение квалификации специалистов компаний наноиндустрии, регулирующих органов, центров коллективного пользования, испытательных центров и лабораторий в области метрологического обеспечения производств, испытаний продукции наноиндустрии и стандартизации.

Тематика Школы

  • Российская и международная практика в области метрологии и стандартизации продукции наноиндустрии. Нормативно-методическое обеспечение наноиндустрии РФ.
  • Вопросы прикладной метрологии в наноиндустрии: разработка и применение методов и средств измерений в производственных процессах и контроле качества продукции.
  • Характеризация перспективных наноматериалов и наноструктур разных типов современными методами измерений.

Программа Школы будет включать приглашенные лекции (40 мин), устные (15-20 мин) и стендовые доклады.

Также в рамках школы будут представлены презентации современного исследовательского и метрологического оборудования для наноиндустрии от ведущих производителей.

Более подробную информацию можно получить на сайте мероприятия.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала