English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(454)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(73)
Новости Keysight Technologies(530)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(255)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(60)
Новости Rohde & Schwarz(414)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(78)
Новости Росстандарта(106)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Читайте в новом номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы"

Читайте в новом номере журнала "Контрольно-измерительные приборы и системы"

26.03.2012

Тема апрельского номера: «Измерения в технике связи»

В этом номере журнала вы можете прочесть два интереснейших интервью с представителями крупнейших фирм-производителей контрольно-измерительного оборудования:
1. Интервью с Сун Чай Гуи (Soon Chai Gooi),  руководителем подразделения портативных приборов общего назначения компании Agilent Technologies Inc, посвященое уникальным ручным приборам Agilent.
2. Интервью Эмануэлы Сперанзы (Emanuela Speranza), вице-президента по продажам и маркетингу компании Tektronix, взятое на партнёрской конференции EMEA Partner Conference Meeting, главным редактором журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» Александром Афонским. В интервью даются прогнозы на будущее комбинированных приборов, и рассказывается о планах в отношении работы и дальнейшего развития компании на российском рынке, а также изменениях в маркетинговой политике компании.

Много познавательного и интересного можно найти и в статьях, представленных в журнале:

- Обзор выставки лабораторного оборудования Pittcon, г.Орландо, США. Авторы: Татьяна и Александр Афонские (Tatiana Afonskaya and Alexandr Afonskiy)
- «Можно ли применять «руководство по выражению неопределенности измерения» в задачах обеспечения единства измерений?» Автор: Левин С.Ф. (Levin S.), д.т.н., профессор, зав. кафедрой метрологии МИЭИ
- «Захват большего количества деталей сигнала с использованием сегментированной памяти осциллографа». Автор: Мери-Джейн Хэйес (Maryjane Hayes).
- «Лабораторные программируемые источники питания АКТАКОМ с дистанционным управлением». Автор: Афонский А.А (A. Afonskiy)

Кроме того, продолжена публикация серии статей Л.Н.Брянского об истории метрологии. В этом номере вы можете ознакомиться со статьей «Российская метрология и Российские метрологи».

Не забудьте оформить подписку на 2012 год!



Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Апрель 2018
КИПиС 2018 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала