English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Специалисты Омского ЦСМ приняли участие в Евразийском технологическом форуме

Специалисты Омского ЦСМ приняли участие в Евразийском технологическом форуме

06.12.2017

Масштабный форум, который впервые собрал ученых со всей России и из-за рубежа в Омске, был посвящен достижениям и приоритетам научно-технологического развития России и приурочен к 75-летию Омского государственного технического университета.

Миссией форума, который вобрал в себя конференции, семинары, круглые столы, посвященные вопросам взаимодействия науки и производства, межрегионального сотрудничества, информационных и цифровых технологий в образовании, организаторы объявили укрепление связей между университетскими научно-техническими разработками и предприятиями реального сектора экономики. На заседаниях секций выступили более 150 ученых из городов России, а также из Казахстана, Белоруссии, Болгарии, Италии, Южной Кореи.

Одним из ключевых мероприятий в русле форума стала Международная научно-техническая конференции «Метрология, стандартизация, качество: теория и практика». По словам начальника отдела метрологического обеспечения Омского ЦСМ Алексея Попова, особый интерес вызвали пленарные доклады, сделанные российскими и зарубежными учеными: Христо Радевым (София, Болгария), Григорием Русских (Омск) и другими специалистами. Они касались актуальных вопросов метрологии и измерений и были посвящены международному сотрудничеству ОмГТУ в аэрокосмической сфере, достижениям омского вуза в области прикладной механики, проектированию измерительных систем, подходам к измерению и его точности, проектированию регуляторов для динамических систем и т.д.

Участница форума, специалист Омского ЦСМ Татьяна Дикая рассказала, что на этот раз омская метрологическая конференция приобрела статус международной. Актуальные вопросы метрологического обеспечения качества технической продукции на всех процессах жизненного цикла обсудили ведущие ученые и практики из стран Европы и Азии. В русле конференции «Метрология, стандартизация, качество: теория и практика» проведен круглый стол по проблеме «Неопределенность». Организаторы сообщили, что статьи по итогам докладов будут размещены в IOP Conference Series, проиндексированы основными научными базами, такими как WoS, SCOPUS и другие.

www.csm.omsk.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения