English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(467)
Новости Anritsu(101)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(538)
Новости Metrel(11)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(425)
Новости Tektronix(190)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(80)
Новости Росстандарта(113)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Обучение по программе повышения квалификации "Метрологическое обеспечение, калибровка и поверка средств измерений медицинского назначения"

Обучение по программе повышения квалификации "Метрологическое обеспечение, калибровка и поверка средств измерений медицинского назначения"

31.03.2018

Государственный научный центр Российской Федерации ФГУП "ВНИИМ им. Д.И. Менделеева" проводит обучение по программе повышения квалификации "Метрологическое обеспечение, калибровка и поверка средств измерений медицинского назначения".

Даты курса: 23 – 27 апреля 2018.
Место проведения: ФГУП "ВНИИМ им Д.И. Менделеева", Московский пр., 19, Санкт-Петербург.

Семинар предназначен для специалистов, работающих в области контроля качества средств измерений медицинского назначения (СИМН).

Семинар посвящен актуальным вопросам в области разработки нормативно-технической документации, а также практическим вопросам метрологического сопровождения СИМН в ЛПУ страны.

Программа семинара рассчитана на 5 дней:

  • Проблема реализации ФЗ №102 в сфере здравоохранения.
  • Разработка и внедрение новых типов ГСО для обеспечения метрологической прослеживаемости в области здравоохранения
  • Проведение и результаты межлабораторных сличений в сфере клинико-диагностических исследований с использованием стандартных образцов утвержденного типа
  • Метрологическое обеспечение СИМН, применяемых в клинико-диагностических лабораториях
  • Метрологическое обеспечение СИМН, функциональной диагностики
  • Вопросы реализации метрологического контроля (надзора) СИМН
  • Разработка типовых методик поверки СИМН
  • Примеры и предложения от региональных представителей
  • Вопросы метрологического обеспечения при анализе ДНК.

Участие в семинаре проводится на платной основе, подробнее об условиях участия можно узнать по данной ссылке.

www.vniim.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.08.1834
День рождения