English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(539)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(623)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(525)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(106)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Научно-практический семинар «Погрешность VS Неопределенность»

Научно-практический семинар «Погрешность VS Неопределенность»

21.03.2020

Научно-практический семинар «Погрешность VS Неопределенность. Сопоставление способов оценивания точности. Пересчет характеристик погрешности в неопределенность измерений» пройдёт с 8 по 11 июня 2020 в Санкт-Петербурге.

В программе семинара:

1. Общие сведения из теории вероятности и математической статистики

2. Основные принципы оценивания характеристик погрешности и
неопределенности измерений.

3. Способы оценивания точности при обработке результатов измерений.
3.1. Способы оценивания точности прямых однократных измерений. Анализ Рекомендаций Р 50.2.038-2004.
3.2. Способы оценивания точности прямых многократных измерений. Сопоставление ГОСТ Р8.736-2011 и ГОСТ Р 54500.3-2011.
3.3. Способы оценивания точности нескольких групп прямых многократных измерений.
3.3. Способы оценивания точности косвенных некоррелированных и коррелированных измерений. Сопоставление МИ 2083-90 и ГОСТ Р 54500.3.1.
3.4. Совместные измерения. Идентификация калибровочных зависимостей. Анализ Р50.2.028-2003.

4. Практические аспекты оценивания характеристик погрешности и неопределенности измерений.
4.1. Способы оценивания точности первичных, вторичных и групповых эталонов. Анализ ГОСТ Р 8.381- 2009.
4.2. Способы оценивания точности аттестованных значений стандартных образцов. Анализ Р50.2.058 – 2007.
4.3. Способы оценивания точности межлабораторных сравнительных испытаний. Анализ Р50.4.006-2002

Подробнее об условиях участия

www.cnts-dialog.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
29.10.1880
День рождения
29.10.1893
День рождения создателя и редактора "Массовой радиобиблиотеки"