English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Производственные испытания (Manufacturing test)

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Производственные испытания (Manufacturing test)

15.01.2014

Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.

Вашему вниманию представляются финалисты в категории Производственные испытания (Manufacturing test).

M9703A Высокоскоростной дигитайзер и широкополосный цифровой приемник в формате AXIe с разрешением 12 бит от компании Agilent Technologies

Модуль M9703A в формате AXIe представляет собой высокоскоростной восьмиканальный дигитайзер и широкополосный цифровой приемник, обеспечивающий разрешение 12 бит и захват сигналов в диапазоне частот от 0 до 2 ГГц с частотой дискретизации 1,6 Гвыб./с. Режим чередования каналов позволяет захватывать данные с частотой дискретизации до 3,2 Гвыб./с с исключительно высокой точностью измерений. Дигитайзер/приемник M9703A обеспечивает обработку данных в режиме реального времени с помощью четырех ПЛИС Virtex 6 и имеет очень большой объем встроенной памяти — до 16 Гбайт.

Встроенные ПЛИС дигитайзера M9703A имеют опцию цифрового преобразователя с понижением частоты (опция DDC), позволяющего настраиваться на анализируемый сигнал и масштабировать его в режиме реального времени. Опция DDC обеспечивает расширение динамического диапазона, снижение уровня собственных шумов, а также увеличение продолжительности захвата данных и повышение скорости измерений. Использование этой опции совместно с программным обеспечением векторного анализа сигналов Agilent 89600 VSA позволяет выполнять углубленный анализ результатов измерений.

Функция синхронизации в многомодульном режиме обработки данных позволяет создать систему на базе пятислотового шасси в формате AXIe Agilent M9505A высотой всего 4U, содержащую до 40 когерентных по фазе каналов и способную осуществлять захват сигналов с частотой дискретизации 1,6 Гвыб./с.

Agilent Technologies

Приборы в формате PXIe, Agilent Technologies

Анализатор M9391A совместно с векторным генератором сигналов в формате PXIe M9381A может использоваться для тестирования и аттестации беспроводных усилителей мощности, приемопередатчиков и базовых станций сотовой связи, главным образом, пикосот и фемтосот. Новый анализатор позволяет выполнять больше тестов за меньшее время, что способствует сокращению затрат на испытания. Измерительные приложения для анализаторов сигналов серии X позволяют тестировать сигналы большинства форматов беспроводной связи, включая LTE, GSM, W-CDMA и 802.11ac, а также гарантируют простой доступ к перспективным стандартам без переконфигурирования или замены оборудования.

Agilent Technologies

Платформа ScanWorks Intel SiliconView, компания ASSET InterTech

Платформа ScanWorks для встраиваемых приборов является единственным устройством для поддержки всех трех аспектов технологии SiliconView от Intel (SVT): платформенной отладки, оценки характеристики высокоскоростных шин, производственного тестирование плат. Компания ASSET сотрудничает с Intel уже на протяжении девяти лет, поэтому ScanWorks поддерживает все процессорные платформы Intel. Работая сообща с системой Intel SVT и её особенностями, инструмент ScanWorks используется для измерения и оценки целостности сигнала на высокоскоростных каналах передачи данных и шинах, таких как PCI Express Graphics, Direct Media Interface (DMI) и т.д.

ASSET InterTech

Платформа compactUTS (cUTS) от Bloomy Controls

Иногда для проведения функционального тестирования не требуется громоздких испытательных стендов, необходимо тестовое решение, которое можно моделировать. Именно поэтому компания Bloomy Controls создала тестовую платформу compactUTS. Система включает в себя полный набор опций для автоматического тестирования и проверки качества PCBA и элементов на плате.

Лёгкое, компактное и простое в использовании устройство compactUTS просто программируется с использованием NI LabVIEW и программного пакета для NI TestStand.

Bloomy Controls

TAP-трансивер SFX-TAP16/G-RM, GOEPEL Electronic

TAP-трансивер SFX-TAP16/G-RM, представленный компанией Goepel, предназначается для параллельного тестирования и программирования до 16 электронных сборок.

Трансивер SFX-TAP16/G-RM обеспечивает выполнение динамического тестирования, основанного на эмуляции процессора в производственных линиях. Трансивер позволяет обнаружить скрытые дефекты, в том числе в процедурах HASS/HALT.

GOEPEL Electronic

Система производственного тестирования J750Ex-HD, компания Teradyne

Усовершенствованная система J750 включают в себя новые устройства HD, которые могут быть установлены в качестве обновления для расширения производительности и пропускной способности системы.

Система J750Ex-HD используется для тестирования приложений SoC, включая тестирование микроконтроллеров, датчиков изображения и мобильных устройств связи.

Teradyne

По материалу EDN Network, www.edn.com


Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии