English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(487)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(566)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(465)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Международный семинар «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений»

Международный семинар «Математическая, статистическая и компьютерная поддержка качества измерений»

13.05.2018

Проведение международных научных семинаров, посвященных проблеме обработки данных и оценивания качества измерений во ВНИИМ им. Д.И. Менделеева, стало доброй традицией. Организаторы семинара надеются на плодотворный обмен мнениями специалистов как в области теоретической метрологии, так и в конкретных областях измерений, а также с представителями вузовских наук при обсуждении докладов и проведении круглых столов.

Семинар пройдет с 29 по 31 мая 2018 по адресу: г. Санкт-Петербург, Московский проспект, д.19, ВНИИМ им. Д.И. Менделеева.

Участие в семинаре платное, по предварительной регистрации. Условия участия и регистрационную форму можно найти на сайте ВНИИМ им. Д.И. Менделеева по данной ссылке.

www.vniim.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала