English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

10 лет Системе добровольной сертификации экспертов-метрологов

10 лет Системе добровольной сертификации экспертов-метрологов

28.01.2014

Сегодня отмечается десятилетие Системы добровольной сертификации экспертов-метрологов. 28 января 2004 года были утверждены Правила функционирования СДСЭМ, что явилось отправной точкой создания и формирования Системы, ее становления и развития.

Десятилетие деятельности подтвердило ее жизнеспособность и необходимость в важном деле оценки соответствия установленным требованиям уровня компетентности специалистов в области обеспечения единства измерений.

ФГУП «ВНИИМС»



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии