English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Организация службы анализа отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

Семинар "Организация службы анализа отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры"

16.02.2014

27 февраля 2014 в Москве, в гостиничном комплексе "Измайлово-Альфа" (полный адрес: Измайловское шоссе, 71 А) пройдёт семинар "Организация службы анализа отказов комплектующих изделий при производстве радиоэлектронной аппаратуры".

Для участия необходимо заполнить заявку. Бланк заявки, а также подробная программа мероприятия имеются на сайте Центра современной электроники.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ