English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(258)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test)

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test)

29.01.2014

Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.

Вашему вниманию представляются финалисты в категории Программное обеспечение/тестирование встраиваемых систем (Software/Embedded test).

Анализатор х1149, Agilent Technologies

Анализатор для периферийного сканирования х1149 является универсальным устройством, в то же время, оно отличается простотой в использовании. Данный прибор можно использовать на всех этапах производства плат, начиная с самых ранних – разработки и проверки качества изделия.

Прибор отличается простым и понятным интерфейсом, вся информация отображается на экране с одного клика.

Agilent Technologies

Отладочная программа ScanWorks Arium, ASSET InterTech

ScanWorks Arium – основная отладочная программа с системой трассировки в режиме реального времени, которая используется для поддержки микроархитектуры Silvermont компании Intel.

ASSET InterTech

Технология ChipVORX, компания Goepel Electric

С инновационной технологией ChipVORX (IP -технология для инструментальных средств со встроенным чипом) получилось объединить инструментальные средства периферийного сканирования и средства со встроенным чипом. Так называемые модели ChipVORX предназначены для адаптации программных средств в целевые средства. Благодаря этому технология полностью открыта для любого типа инструментальных средств со встроенным чипом.

Относящиеся к интегральным микросхемам модели ChipVORX являются функциональным программным обеспечением IT с модульной архитектурой. Благодаря данной открытости параллельно могут поддерживаться несколько инструментальных средств со встроенным чипом.

GOEPEL Electronic

Программа ATEasy 9.0, Marvin Test Solution

ATEasy – программа для проверки работоспособности данных и измерительных приложений. ATEasy используется в целях поддержки всех составляющих компонентов программного обеспечения, включая драйвера, тестовые программы, пользовательские интерфейсы и т .д.

Marvin Test Solution

Гибридная система Tessent TestKompress/LogicBIST, Mentor Graphics

Tessent TestKompress – это система комбинированного тестирования СБИС, состоящая из модуля генерации тестов и встроенной схемы декомпрессии-компрессии. Tessent LogicBIST – средство синтеза встроенных структур самотестирования логических схем СБИС. Гибридная система Tessent TestKompress/LogicBIST сочетает в себе функции сразу двух систем для выполнения автоматической генерации тестовых комбинаций, тестирования логических интегральных схем.

Mentor Graphics

Декодеры Manchester или NRZ, Teledyne LeCroy

Опция декодирования протокола Manchester, NRZ предназначается для широкого ряда осциллографических платформ. Декодеры помогают определять широкий диапазон характеристик физического уровня для сигналов, кодированных методом Manchester или NRZ.

Teledyne LeCroy

По материалу EDN Network, www.edn.com



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.10.1844
Родился один из изобретателей радио, французский физик и инженер