English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(487)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(566)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(465)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test)

Финалисты Best-in-Test 2014 в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test)

29.01.2014

Совсем скоро будут объявлены победители конкурса Best-in-Test, который ежегодно проводится, чтобы отметить разработки, представляющие собой наибольшую ценность для контрольно-измерительной индустрии. Награждение победителей состоится 29 января в выставочном центре Santa Clara Convention Center в Санта-Клара, США, штат Калифорния.

Вашему вниманию представляются финалисты в категории Тестирование полупроводников (Semiconductor Test).

Зондовая станция СМ300 от компании Cascade Microtech

Высокопроизводительная масштабируемая зондовая станция СМ300 представляет сбой надёжную измерительную систему для тестирования полупроводниковых изделий. Станция устанавливает новый стандарт в тестировании 300 мм пластин при температуре от -60°С до +200°С, на данной системе доступны измерения изделий с технологическим процессом 30 нм. Система управляется и находится под контролем специальной программы Velox. Программа осуществляет навигацию и контролирует процесс загрузки пластин и установки температурного режима.

Cascade Microtech

Тестер Nighthawk, LXT-Credence

Тестер полупроводниковых элементов Nighthawk обладает динамическим диапазоном 120дБ и оптимальной пропускной способностью. Тестер способен получать и декодировать широкий спектр схем основной полосы частот.

LXT-Credence

Архитектура DFTMAX Ultra Compression, компания Synopsys

DFTMAX позволяют разработчику проверять свой проект на тестопригодность на разных стадиях, включая проверку RTL-кода, что помогает исправить ряд нарушений. DFTMAX Compression автоматически создает описание цепочек сканирования и файл протокола, минимизируя усилия разработчиков, направленные на генерацию тестовых векторов.

Synopsys

Система DesignWare STAR, Synopsys

DesignWare STAR – это устройство автоматизированного иерархического тестирования для эффективной проверки SoC систем и структур. Система DesignWare STAR сокращает время тестирования посредством автоматического создания иерархической сети IEEE 1500 для доступа и контроля всех основных услуг IP на уровне SoC. Это обеспечивает простую интеграцию тестовых ресурсов SoC

Synopsys

По материалу EDN Network, www.edn.com



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала