English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии

ВНИИОФИ и МФТИ подготовят уникальных специалистов в нанометрологии

04.08.2018

ВНИИОФИ подписал соглашение с Московским физико-техническим институтом (МФТИ) о совместном осуществлении образовательной деятельности в рамках кафедры нанометрологии и наноматериалов. Новая кафедра будет готовить уникальных специалистов. Они смогут разрабатывать средства и методики измерений для новых технологических направлений, в которых метрологическое обеспечение пока отсутствует.

«Темпы научно-технологического развития ставят множество вызовов перед метрологией. Приходится с опережением создавать измерительные средства для инновационной продукции, которая еще не вышла на рынок, – отметил директор ВНИИОФИ Андрей Батурин.

Одной из основных задач института является создание и совершенствование эталонной базы высшей точности в области оптики и фотоники. Скоро начнут внедряться многие разработки на основе терагерцовых и квантовых технологий, а также радиофотоники. Это потребует уже подготовленной национальной эталонной базы.

«Для ответа на эти вызовы нам необходимы молодые кадры с сильной подготовкой в области фундаментальной физики и умением решать сложные мультидисциплинарные задачи. Этим всегда отличались студенты Физтеха», – добавил Андрей Батурин.

К исследованиям на стыке метрологии и фундаментальной физики будут привлекаться студенты 4-6 курсов и аспиранты. Параллельно с освоением дисциплин они будут выполнять научно-исследовательскую работу в лабораториях института по различным направлениям: метрология терагерцового излучения, малофотонные источники и приемники для квантовых криптографических и коммуникационных систем, контроль параметров сверхмощного импульсного и непрерывного лазерного излучения и измерение динамических характеристик сверхбыстрых фотоприемников. Первая группа студентов, заинтересованных в поступлении на новую программу, уже посетила ВНИИОФИ с экскурсией.

«ВНИИОФИ хорошо оснащен современным научным оборудованием. Это видно на примере действующих в институте Центра коллективного пользования и Центра метрологического обеспечения наноиндустрии. Институт сейчас наращивает свой научный потенциал, активно участвуя в исследованиях. Работа в метрологическом институте привлекает молодых ученых, желающих решать актуальные задачи с перспективой быстрого внедрения», – отметил заведующий кафедрой нанометрологии и наноматериалов, профессор Павел Тодуа.

Источник: www.gost.ru
www.vniiofi.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений