English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(475)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(546)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(69)
Новости Rohde & Schwarz(437)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(85)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

IX Международная научно-практическая конференция «Информационно-измерительная техника и технологии»

IX Международная научно-практическая конференция «Информационно-измерительная техника и технологии»

27.10.2018

IX Международная научно-практическая конференция «Информационно-измерительная техника и технологии» пройдет с 21 по 24 ноября 2018 г. в Томске в рамках Международного форума «Интеллектуальные системы 4-й промышленной революции».

Место проведения: г. Томск, пр. Ленина 36, Научная библиотека Томского государственного университета.

Конференция проводится на базе факультета инновационных технологий Национального исследовательского Томского государственного университета и будет посвящена актуальным проблемам в области разработки и использования современных информационных технологий в науке, производстве.

Конференция пройдет в сотрудничестве с Национальным исследовательским Томским политехническим университетом, Алтайским государственным техническим университетом им. И.И. Ползунова (г.Барнаул), Институтом оптики атмосферы СО РАН (г.Томск), ОАО "Научно-исследовательским институтом полупроводниковых приборов", Anhalt University of Applied Sciences (Германия), Карагандинский Государственный Технический Университет, ОА «Информационные спутниковые системы им. Решетнева»

В программе конференции:

  • Семинар National Instruments (21 ноября 14:00-19:00)
  • Секция 1: Применение современных средств измерений и информационных технологий
  • Секция 2: Информационные технологии в радиофизике, СВЧ и полупроводниковой электронике
  • Секция 3: Информационные технологии в медицине
  • Секция 4: Стандартизация и метрологическое обеспечение средств неразрушающего контроля
  • Секция 5: Организационные и методические вопросы подготовки специалистов в области информационно-измерительной техники и технологий
  • Выставка

Подать заявку на участие в конференции «Информационно-измерительная техника и технологии» можно на сайте ТГУ по данной ссылке.

www.tic.tsu.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.11.1711
Родился первый русский ученый-естествоиспытатель мирового значения, химик и физик