English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(430)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(81)
Новости Росстандарта(117)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

ГПС для СИ параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм

ГПС для СИ параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм

01.09.2018

С 1 сентября 2018 года впервые вводится ГОСТ 8.661-2018 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений параметров отклонения от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм.

Стандарт распространяется на Государственный первичный специальный эталон (ГПСЭ) единицы длины отклонений от плоскостности оптических поверхностей размером до 200 мм и государственную поверочную схему для средств измерений параметров отклонений от плоскостности EFE (максимальное отклонение от плоскостности) оптических поверхностей размером до 200 мм.

Источник: www.rostest.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.09.1987
Формальная дата основания