English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»

III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством»

29.09.2018

С 14 по 20 октября 2018 г. в Омске пройдет III Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология, стандартизация и управление качеством».

Ключевая миссия Конференции – укрепление связей между университетскими научными исследованиями и предприятиями реального сектора экономики.

В конференции принимают участие студенты, аспиранты и ученые Омского государственного технического университета, а также представители других российских и зарубежных образовательных и научных организаций, промышленные предприятия.

В ходе конференции планируется рассмотреть следующие темы:

  • вопросы геометрических моделей реальных деталей в системе координат;
  • состояние и перспективы развития приборного парка в области бесконтактного теплового контроля;
  • научные принципы стандартизации;
  • тенденции развития систем менеджмента качества на основе международных стандартов ИСО серии 9000;
  • интеграция систем менеджмента качества с межотраслевыми и отраслевыми системами менеджмента;
  • другие актуальные вопросы в области стандартизации, метрологии и управления качеством. <

Конференция будет поделена на несколько секций:

  • Секция 1: Метрологическое обеспечение качества
  • Секция 2: Стандартизация и управление качеством продукции
  • Секция 3: Информационные технологии в современном производстве

Подробнее об условиях участия.

Источник: СО РАН
www.sbras.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ