English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(526)
Новости Anritsu(112)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(605)
Новости Metrel(18)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(76)
Новости Rohde & Schwarz(505)
Новости Tektronix(205)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(98)
Новости Росстандарта(137)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Росаккредитация и Национальный институт аккредитации проведут V Всероссийский съезд экспертов по аккредитации

Росаккредитация и Национальный институт аккредитации проведут V Всероссийский съезд экспертов по аккредитации

09.11.2018

26-27 ноября в Москве состоится V Всероссийский съезд экспертов по аккредитации. В программе двухдневного мероприятия доклады и обсуждения следующих тем:

  • приоритетные направления развития национальной системы аккредитации,
  • актуальные вопросы взаимодействия Росаккредитации с экспертами по аккредитации,
  • совершенствование законодательства Российской Федерации в сфере аккредитации,
  • развитие экспортных возможностей и подходы к оценке заявителей и аккредитованных лиц, проводящих испытания и сертификацию ориентированной на экспорт продукции,
  • лучшие международные практики в области аккредитации и оценки соответствия,
  • подход к оценке соответствия на основе рисков.

Перед участниками съезда выступят руководители Росаккредитации, начальники различных управлений Службы, а также представители зарубежных органов по аккредитации.

Модерацию тематических секций проведут сотрудники Национального института аккредитации Росаккредитации.

К участию в работе съезда приглашаются действующие эксперты по аккредитации.

Для участия в съезде необходимо пройти регистрацию. Подобная информация приведена по ссылке

www.fsa.gov.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Апрель 2020
КИПиС 2020 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала