English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Семинар "Защита от контрафактных электронных компонентов"

Семинар "Защита от контрафактных электронных компонентов"

17.11.2012

12 декабря 2012 в ГК "Измайлово - Альфа" (г. Москва) пройдет семинар "Защита от контрафактных электронных компонентов".

Семинар предназначен для главных конструкторов, руководителей, отделов снабжения, менеджеров по качеству.

Вести семинар будет один из ведущих экспертов в данной области – Лев Шапиро, руководитель консультационной компании Component Master Ltd., Израиль.

Основная часть семинара посвящена предотвращению рисков закупки контрафактных электронных компонентов.

В первой секции семинара будет представлен обзор контрафактной индустрии, анализ масштаба и динамики развития проблемы, а также подробный обзор деятельности международных и национальных организаций по предупреждению и противодействию контрафакту в электронной промышленности.

Вторая секция посвящена планированию жизненного цикла аппаратуры и контролю жизненного цикла компонентов. Недооценка такого планирования, неумение согласовывать жизненные циклы аппаратуры и компонентов приводит к острейшему дефициту комплектующих, снятых с производства. Отсутствие оригиналь­ных компонентов на рынке толкает предприятия к закупкам контрафакта. Рекомендации этой секции помогают решить не только проблему контрафактных комплектующих, они также помогают снизить общую стоимость закупок и исключить задержки выхода продукции на рынок из-за недоступности комплектующих.

Третья секция посвящена управлению закупками и каналами поставок. Здесь будут даны рекомендации по выбору основных поставщиков компонентов. Будет показано, какие требования необходимо предъявлять к ним, как контролировать выполнение этих требований, как организовать эффективные коммуникации с поставщиками, чтобы минимизировать риски контрафакта. Будет показано, как контролировать риски контрафакта во всей цепочке поставок – от фабрики через вендора, через дистрибьюторов до склада комплектующих на производстве. Будут даны рекомендации по организации срочных закупок, в том числе при вынужденных обращениях к «свободному» рынку: выбор поставщика, организация строгого входного контроля при закупках у неавторизованных поставщиков.

В четвертой секции выступят ведущие специалисты по технологиям тестирования компонентов из компаний SoVTest и PT Electronics. Они сделают обзор технологий и оборудования для контроля компонентов, представят возможности современных лабораторий. Также будут даны рекомендации, как поступать с выявленными контрафактными компонентами, как участвовать в обмене информацией о контрафактных компонентах.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения