English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(487)
Новости Anritsu(108)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(75)
Новости Keysight Technologies(567)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(71)
Новости Rohde & Schwarz(465)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(131)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов»

Обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов»

13.04.2019

С 13 по 31 мая 2019 г. в Академии стандартизации, метрологии и сертификации пройдет обучение по программе «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов».

Программа специализации «Методы и средства метрологического обеспечения нанотехнологий и аналитического контроля наноматериалов» предусматривает изучение вопросов обеспечения единства и качества оптико-физических и физико-химических измерений в области нанотехнологий, наноструктурированных материалов и изделий наноиндустрии, в том числе с учетом особенностей методик выполнения измерений, испытаний и оценке соответствия и безопасности продукции нанотехнологий.

Настоящая программа предназначена для повышения квалификации широкого круга специалистов, выполняющих работы по оценке и подтверждению соответствия продукции наноиндустрии с использованием современных оптико-физических и физико-химических методов и средств аналитического контроля. 

В программе представлены практически все современные методы и средства аналитического контроля, используемые как в РФ так и за рубежом. Особое внимание уделяется проблемам подтверждения соответствия и безопасности продукции наноиндустрии.

При проведении практических занятий слушатели приобретают навыки эксплуатации, калибровки и поверки сложных автоматизированных средств измерения, изучают стандарты и методики проведения измерений, знакомятся с дополнительной методической литературой, приобретают навыки оформления документов.

Ознакомиться с условиями участия, а также подать заявку можно по данной ссылке.

www.asms.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2019
КИПиС 2019 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала