English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(526)
Новости Anritsu(112)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(605)
Новости Metrel(18)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(76)
Новости Rohde & Schwarz(506)
Новости Tektronix(205)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(99)
Новости Росстандарта(137)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

О российско-китайском научном сотрудничестве

О российско-китайском научном сотрудничестве

22.07.2019

8 июля в Москве состоялась встреча специалистов ВНИИ метрологической службы с учеными Хефейского технологического университета Китайской народной республики.

Диалог с представителями китайской делегации поддержали сотрудники отдела метрологического обеспечения измерений геометрических параметров.

Ученые Хефейского технологического университета продемонстрировали результаты своих исследований в области моделирования и поверки микро- и нано- датчиков для координатно-измерительных машин и обсудили с российскими коллегами возможность их применения в целях совершенствования метрологического обеспечения измерений геометрических параметров поверхностей сложной формы. В свою очередь российские специалисты познакомили китайских коллег с перспективными разработками в области измерений геометрических параметров шероховатости, формы и расположения поверхностей на базе лабораторий института.

По итогам встречи стороны выразили взаимную заинтересованность в научном сотрудничестве и обмене результатами исследований.

www.vniims.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Апрель 2020
КИПиС 2020 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений