English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(530)
Новости Anritsu(113)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(609)
Новости Metrel(19)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(77)
Новости Rohde & Schwarz(513)
Новости Tektronix(206)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(102)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Стандартизированы требования к проведению контроля технического состояния МИИФ

Стандартизированы требования к проведению контроля технического состояния МИИФ

19.11.2019

Медицинские изделия с измерительными функциями (МИИФ) подпадают под действие федеральных законов «О техническом регулировании» и «Об обеспечении единства измерений» и должны в определенной мере соответствовать обязательным требованиям к измерениям, осуществляемым в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений.

ГОСТ Р 58450-2019 (дата введения – 2019-12-01) устанавливает общие требования к проведению контроля состояния МИИФ.

Контроль технического состояния медицинских изделий – это:

  • проверка соответствия значений параметров и характеристик МИ требованиям нормативной и эксплуатационной документации
  • выявление изношенных и поврежденных частей (деталей)
  • проверка действия всех защитных устройств и блокировок, наличия и ведения эксплуатационной документации

Разработка настоящего стандарта вызвана необходимостью унификации нормирования технических и метрологических требований к контролю состояния медицинских изделий в процессе их эксплуатации.

Международных аналогов настоящему стандарту не существует. Настоящий стандарт отражает национальную специфику реализации системы менеджмента качества в медицине.

www.rostest.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала