English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(522)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(600)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(498)
Новости Tektronix(202)
Новости Texas Instruments(20)
Новости Yokogawa(92)
Новости Росстандарта(136)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

III Международная конференция "Оптическая рефлектометрия, метрология и сенсорика 2020"

III Международная конференция "Оптическая рефлектометрия, метрология и сенсорика 2020"

15.03.2020

III Международная конференция "Оптическая рефлектометрия, метрология и сенсорика 2020" пройдет с 27 по 29 мая 2020 года в Перми.

Это единственная в мире конференция, объединяющая практиков и теоретиков, работающих в области исследования обратного рассеяния в различных средах, оптических волокнах, интегрально-оптических и объемных элементах и воплощающих свои разработки в сенсорных и метрологических решениях.

Конференция будет проводиться на двух языках – русском и английском.

Желающие принять участие в конференции с докладами должны обратить внимание на следующие важные даты:

  • Материал принимается до 29.03.20.
  • Оплата регистрационного взноса – до 11.05.20.

С подробной программой конференции можно ознакомиться на сайте мероприятия по ссылке www.or-2020.permsc.ru.

Источник: ПФИЦ УрО РАН
www.permsc.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 1 Февраль 2020
КИПиС 2020 № 1
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала