English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(544)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(632)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(526)
Новости Tektronix(215)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(114)
Новости Росстандарта(140)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

IV Международная научная конференция «Стандартные образцы в измерениях и технологиях»

IV Международная научная конференция «Стандартные образцы в измерениях и технологиях»

31.10.2020

Конференция «Стандартные образцы в измерениях и технологиях» пройдет с 1 по 3 декабря 2020 г. Организаторами мероприятия являются: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Росстандарт), Уральский научно-исследовательский институт метрологии – филиал ФГУП «Всероссийский научно- исследовательский институт метрологии им. Д.И. Менделеева», Научный методический центр Государственной службы стандартных образцов состава и свойств веществ и материалов.

Адрес мероприятия: г. Санкт-Петербург, г. Пушкин, «Кочубей – центр», ул. Радищева, д. 4.

На конференции будут обсуждаться следующие вопросы:

  • теории и практики создания, производства, распространения и применения стандартных образцов
  • теории и практики создания, производства, распространения и применения стандартных образцов
  • метрологическое обеспечение измерений в различных областях экономики
  • первичные референтные методики измерений и референтные методики измерений
  • метрологической прослеживаемости измерений
  • межлабораторные сличительные испытания
  • международное сотрудничество в области СО
  • вопросы общеметрологического характера.

Тематика конференции:

  • Единство измерений: международные работы, сотрудничество в области СО
  • Стандартные образцы в обеспечении единства измерений
  • Общие научные и практические вопросы разработки, выпуска из производства, выбора и применения СО
  • Деятельность национальных служб стандартных образцов в странах СНГ
  • Особенности аттестации и производства СО различных веществ и материалов
  • Распространение СО, обеспечение потребностей в СО различных областей экономической деятельности
  • Новые средства измерений, методы (методики) измерений параметров состава и свойств веществ и материалов
    и многие другие темы.

Подробные условия участия представлены на сайте конференции.

www.conference.gsso.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2020
КИПиС 2020 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
25.01.1627
Родился физик и химик