Обучающая программа «Метрологическое обеспечение в области фотоники»

Обещающая программа пройдет с 6 по 24 апреля 2020 г. в Москве в Академии стандартизации, метрологии и сертификации. К участию приглашаются инженерно-технические работники и специалисты учреждений и предприятий наноиндустрии, специалисты ЦСМ, ЦГСЭН, специализированных лабораторий, специалисты фирм, занимающихся производством и продажей современных аналитических средств измерения.

Тематический план мероприятия:

• Основы метрологии оптико-физических измерений
• Состояние и тенденции развития законодательной, нормативно-правовой и инструментальной базы системы обеспечения единства измерений (ОЕИ) в РФ и за рубежом
• Состояние и направления развития эталонной базы системы ОЕИ
• Метрологическое обеспечение фотометрии и оптической радиометрии
• Методы и средства поверки, калибровки и испытаний средств измерений характеристик некогерентного оптического излучения
• Метрологическое обеспечение волоконно-оптических систем
  и ряд других тем.

Полная программа курса, а также форма заявки представлены на сайте Академии по данной ссылке.