English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(539)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(623)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(525)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(106)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Обучающая программа «Метрологическое обеспечение в области фотоники»

Обучающая программа «Метрологическое обеспечение в области фотоники»

07.03.2020

Обещающая программа пройдет с 6 по 24 апреля 2020 г. в Москве в Академии стандартизации, метрологии и сертификации. К участию приглашаются инженерно-технические работники и специалисты учреждений и предприятий наноиндустрии, специалисты ЦСМ, ЦГСЭН, специализированных лабораторий, специалисты фирм, занимающихся производством и продажей современных аналитических средств измерения.

Тематический план мероприятия:

  • Основы метрологии оптико-физических измерений
  • Состояние и тенденции развития законодательной, нормативно-правовой и инструментальной базы системы обеспечения единства измерений (ОЕИ) в РФ и за рубежом
  • Состояние и направления развития эталонной базы системы ОЕИ
  • Метрологическое обеспечение фотометрии и оптической радиометрии
  • Методы и средства поверки, калибровки и испытаний средств измерений характеристик некогерентного оптического излучения
  • Метрологическое обеспечение волоконно-оптических систем
    и ряд других тем.

Полная программа курса, а также форма заявки представлены на сайте Академии по данной ссылке.

www.asms.ru



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений