English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(540)
Новости Anritsu(117)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(626)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(88)
Новости Rohde & Schwarz(526)
Новости Tektronix(211)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(109)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Онлайн-форум «Всемирный день качества – 2020»

Онлайн-форум «Всемирный день качества – 2020»

09.11.2020

Ежегодно во второй четверг ноября отмечается Всемирный день качества, в рамках празднования которого проводятся деловые мероприятия, подчеркивающие важность непрерывного повышения качества продукции и услуг для устойчивого развития общества и государства. С 12 по 13 ноября, в формате «онлайн», пройдет форум «Всемирный день качества – 2020».

Организаторы: Минпромторг России, Роскачество, Росстандарт и Росаккредитация.

Цель форума: обсуждение и популяризация лучших практик повышения качества и эффективности бизнес-процессов в различных отраслях. Ключевая тема – качество как преимущество в условиях неопределенности.

Форум будет интересен руководителям организаций, специалистам служб качества, производственной системы, пищевой безопасности, инженерам и технологам, экспертам из сферы госрегулирования, представителям органов власти, общественных и деловых объединений.

Участие бесплатное, но требуется предварительная регистрация. Зарегистрироваться, а также ознакомиться с подробной деловой программой можно по данной ссылке.

Сайт Форума www.kachestvo.pro

Примечание: Читайте о Всемирном дне качества в нашей Энциклопедии измерений.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2020
КИПиС 2020 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.11.1894
Родился американский ученый,математик, один из создателей кибернетики