English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(393)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Обновлён раздел «Обзоры и анонсы выставок»

Обновлён раздел «Обзоры и анонсы выставок»

13.05.2015

Чтобы Вам было удобнее планировать свой рабочий график, мы продолжаем пополнять раздел «Обзоры и анонсы выставок» нашего сайта. В нём Вы сможете посмотреть, какие тематические выставки планируются в ближайшем будущем, когда именно, и где они будут проходить.

Май и начало июня богаты на мероприятия, как в России, так и за рубежом.

Уже на следующей неделе состоится крупнейший 11-й по счёту Московский Международный инновационный форум «Точные измерения – основа качества и безопасности». В рамках этого масштабного мероприятия пройдут сразу несколько специализированных выставок. Подробнее – смотрите в нашем разделе «Обзоры и анонсы выставок».

В Шанхае, Китай, пройдёт международная выставка International CES Asia, в ходе которой будут представлены инновации и новейшие технологии самых разных отраслей.

Другие мероприятия, их даты и место проведения можно посмотреть в разделе «Обзоры и анонсы выставок».



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
18.12.1890
Родился американский радиоинженер и изобретатель
18.12.1856
День рождения