English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(480)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(552)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(446)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(125)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Раздел «Осциллография» Энциклопедии измерений пополнился новым термином

Раздел «Осциллография» Энциклопедии измерений пополнился новым термином

01.09.2016

Спешим сообщить, что Энциклопедия измерений продолжает развиваться и пополняться новыми определениями.

В этом году компанией Tektronix была анонсирована абсолютно новая платформа для измерительных систем – технология IsoVu. Основная идея этой технологии заключается в использовании электро-оптических датчиков для преобразования входного сигнала в оптический модулированный, что позволяет гальванически развязать осциллограф от тестируемого устройства.

О возможностях новой технологии и её основных характеристика Вы узнаете из нашей Энциклопедии измерений.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
25.01.1627
Родился физик и химик