English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(423)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(506)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(243)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(384)
Новости Tektronix(179)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(90)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Раздел «Осциллография» Энциклопедии измерений пополнился новым термином

Раздел «Осциллография» Энциклопедии измерений пополнился новым термином

01.09.2016

Спешим сообщить, что Энциклопедия измерений продолжает развиваться и пополняться новыми определениями.

В этом году компанией Tektronix была анонсирована абсолютно новая платформа для измерительных систем – технология IsoVu. Основная идея этой технологии заключается в использовании электро-оптических датчиков для преобразования входного сигнала в оптический модулированный, что позволяет гальванически развязать осциллограф от тестируемого устройства.

О возможностях новой технологии и её основных характеристика Вы узнаете из нашей Энциклопедии измерений.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.09.1501
день рождения