English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(406)
Новости Anritsu(94)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(498)
Новости Metrel(5)
Новости National Instruments(233)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(55)
Новости Rohde & Schwarz(371)
Новости Tektronix(174)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(67)
Новости Росстандарта(83)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Новые определения в нашей Энциклопедии

Новые определения в нашей Энциклопедии

10.03.2017

Энциклопедия измерений продолжает пополняться новыми терминами и определениями. В настоящий момент обновлены сразу несколько её разделов.

Предлагаем ознакомиться со следующими терминами:

Раздел «Осциллография»:

Раздел «Метрология»:

Узнайте об организации Международная комиссия по освещению (МКО, CIE) из одноименного раздела Энциклопедии.

В раздел «Стандарты, интерфейсы» добавлен новый термин CAN.

Если Вам необходимо найти подробную информацию о каком-либо новом термине, обратитесь к нашей Энциклопедии измерений. Возможно, именно она станет отличной подсказкой. Списки содержащихся в ней терминов будут продолжать обновлять.



Возврат к списку

Свежий номер
№ 2 Апрель 2017
КИПиС 2017 № 2
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
24.05.1686
День рождения
24.05.1544
День рождения