English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(482)
Новости Anritsu(106)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(555)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(260)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(449)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(126)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Энциклопедии измерений продолжает обновляться

06.12.2013

 Раздел «Метрология» Энциклопедии измерений пополнился новыми определениями – «Коэффициент охвата» и «Инструментальный дрейф».


Возврат к списку
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
17.02.1888
Родился немецкий физик, лауреат Нобелевской премии по физике за 1943 год
Отто Штерн