English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(535)
Новости Anritsu(115)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(617)
Новости Metrel(22)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(85)
Новости Rohde & Schwarz(520)
Новости Tektronix(209)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(105)
Новости Росстандарта(139)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новые термины в разделе «Метрология» Энциклопедии измерений

10.12.2013

В раздел «Метрология» Энциклопедии измерений добавились новые термины. Предлагаем ознакомиться с новыми определениями «Чувствительность измерительной системы» и «Разрешающая способность».



Возврат к списку

Свежий номер
№ 4 Август 2020
КИПиС 2020 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик