EN
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(574)
Новости Anritsu(121)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(666)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(558)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(23)
Новости Yokogawa(132)
Новости Росстандарта(154)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Информация
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Как оптимизировать измерения линейных искажений с помощью анализатора сигналов

Традиционное применение анализатора спектра для измерения параметров ВЧ устройств сводится к классическому измерению нелинейных характеристик, таких как нелинейные искажения, точка пересечения по интермодуляционным составляющим 3-го порядка (TOI) или приведённый ко входу уровень паразитных составляющих. Одним из распространенных измерений нелинейных характеристик является измерение относительного уровня мощности в соседнем канале. Эти измерения позволяют прогнозировать чистоту спектра данного ВЧ устройства в присутствии нескольких приёмников или передатчиков…

Автор(ы): Боб Нельсон (Bob Nelson)
Номер журнала: КИПиС 2016 № 1

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Читайте бесплатно
№ 4 Декабрь 2021
КИПиС 2021 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
13.12.1816
День рождения
Вернер фон Сименс
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.