![]() |
![]() |
|
![]() |
![]() |
Поиск по сайту
Авторизация
Подписка на рассылку
|
Как оптимизировать измерения линейных искажений с помощью анализатора сигналов
Традиционное применение анализатора спектра для измерения параметров ВЧ устройств сводится к классическому измерению нелинейных характеристик, таких как нелинейные искажения, точка пересечения по интермодуляционным составляющим 3-го порядка (TOI) или приведённый ко входу уровень паразитных составляющих. Одним из распространенных измерений нелинейных характеристик является измерение относительного уровня мощности в соседнем канале. Эти измерения позволяют прогнозировать чистоту спектра данного ВЧ устройства в присутствии нескольких приёмников или передатчиков…
Автор(ы): Боб Нельсон (Bob Nelson) Номер журнала: КИПиС 2016 № 1 Материалы по теме:
Новости КИПиС
Новости компаний
Статьи КИПиС
Энциклопедия измерений
При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна. Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь. |
Свежий номер
События из истории измерений
09.03.1900
Родился американский математик, создатель первых электромеханических вычислительных машин
![]() |
|
|
© "Контрольно-измерительные приборы и системы" ("КИПиС"), 1996-2021. Все права защищены. Политика конфиденциальности | |