English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(471)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(540)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(64)
Новости Rohde & Schwarz(430)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(81)
Новости Росстандарта(116)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Измерения с высоким разрешением с помощью осциллографов R&S серий RTO и RTE

Появление осциллографов высокого разрешения обусловлено возросшей потребностью в проведении более детального анализа сигналов, в частности, в областях аналого-цифровых устройств, автотранспорта, медицины и приложений для анализа мощности, где присутствует необходимость в детальном отображении сигналов больших и малых напряжений. Одним из примеров является задача определения характеристик импульсных источников питания (SMPS). Другим примером может служить анализ амплитудно-модулированных радиосигналов с небольшим коэффициентом модуляции, используемых в радиолокации…

Номер журнала:  КИПиС 2015 № 6

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 4 Август 2018
КИПиС 2018 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
21.09.1801
Родился немецкий и русский физик, академик