English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(431)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(513)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(248)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(390)
Новости Tektronix(182)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

12-й Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения — основа качества и безопасности»

Как известно, 20 мая отмечается Всемирный День Метрологии! В преддверии этого профессионального праздника, на территории ВДНХ, традиционно проходит Московский международный инновационный форум и выставка «Точные измерения — основа качества и безопасности». И, этот год не стал исключением. С 17 по 19 мая форум прошёл уже в 12-й по счёту раз. Форум «Точные измерения — основа качества и безопасности» — это масштабная международная коммуникационная платформа для встречи специалистов и любителей, представителей федеральных органов исполнительной власти, науки и бизнеса, другими словами — всех, кто заинтересован в развитии современного приборостроения и высокоточных измерений.

Автор(ы):  Афонская Т.Д. / Боровская М.И.
Номер журнала:  КИПиС 2016 № 3

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2017
КИПиС 2017 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.11.1904
Родился французский физик