English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(473)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(67)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(121)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

КИПиС 2014 № 3

КИПиС 2014 № 3 Год: 2014
Номер: 3
Месяц: Июнь
Тема номера: Метрология
На обложке: National Instruments предлагает новый подход к СВЧ измерительной технике на базе открытого ПО и модульных приборов (www.ni.com)
Содержание
Реклама в номере
Источник-измеритель с сенсорным дисплеем KEITHLEY 2450 - Keithley Instruments
Источник-измеритель с сенсорным дисплеем KEITHLEY 2450
Keithley Instruments
(www.keithley.com)
Ваша лаборатория в антистатическом исполнении от АКТАКОМ - ЭЛИКС
Ваша лаборатория в антистатическом исполнении от АКТАКОМ
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Источники питания постоянного и переменного тока АКТАКОМ - ЭЛИКС
Источники питания постоянного и переменного тока АКТАКОМ
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Профессиональные программируемые нагрузки АКТАКОМ - ЭЛИКС
Профессиональные программируемые нагрузки АКТАКОМ
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Токовые клещи АКТАКОМ - превосходный выбор - ЭЛИКС
Токовые клещи АКТАКОМ - превосходный выбор
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Выставка RADEL-2014 - ФАРЭКСПО
Выставка RADEL-2014
ФАРЭКСПО
(www.farexpo.ru)
Портативные цифровые RLC-метры - ЭЛИКС
Портативные цифровые RLC-метры
ЭЛИКС
(www.eliks.ru)
Цифровые осциллографы RIGOL для точных измерений - ИРИТ
Цифровые осциллографы RIGOL для точных измерений
ИРИТ
(www.irit.ru)
Открыт новый портал! - Rohde & Schwarz
Открыт новый портал!
Rohde & Schwarz
(www.rohde-schwarz.ru)
Новый подход к системам тестирования на базе открытого ПО и модульных приборов - National Instruments
Новый подход к системам тестирования на базе открытого ПО и модульных приборов
National Instruments
(www.ni.com)
Выставка Electrontechexpo 2015 - Primexpo
Выставка Electrontechexpo 2015
Primexpo
(www.primexpo.ru)
Прецизионные параметрические анализаторы серии B2900A - Keysight Technologies
Прецизионные параметрические анализаторы серии B2900A
Keysight Technologies
(www.agilent.ru)
Осциллографические технологии нового поколения - Keysight Technologies
Осциллографические технологии нового поколения
Keysight Technologies
(www.agilent.ru)
     

Назад в раздел
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ