English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(504)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(77)
Новости Keysight Technologies(579)
Новости Metrel(16)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(73)
Новости Rohde & Schwarz(481)
Новости Tektronix(198)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(134)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Тестирование трансиверов SFP+

SFP+ представляет собой компактный многоскоростной оптический трансивер нового поколения с возможностью горячего подключения, работающий на скоростях от 8,5 до 11 Гбит/с и применяемый в сетях передачи или хранения данных. По мере распространения SFP+ важно, чтобы инженеры познакомились с основными проблемами, связанными с тестированием устройств, поддерживающих SFP+. В этой статье обсуждаются основные возможности SFP+ и проблемы тестирования.

Автор(ы):  Дин Майлс (Dean Miles)
Номер журнала:  КИПиС 2014 № 3
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:

Энциклопедия измерений


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2019
КИПиС 2019 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
20.10.1891
Родился английский физик, известный за открытие нейтрона и фотоядерной реакции, лауреат Нобелевской премии по физике 1935 года
20.10.1902
День рождения разработчика МЭСМ