English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(572)
Новости Anritsu(120)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(657)
Новости Metrel(24)
Новости National Instruments(265)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(96)
Новости Rohde & Schwarz(549)
Новости Tektronix(225)
Новости Texas Instruments(22)
Новости Yokogawa(129)
Новости Росстандарта(151)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
NI
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Боб Нельсон (Bob Nelson)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Как оптимизировать измерения линейных искажений с помощью анализатора сигналов

Номер журнала: КИПиС 2016 № 1

Традиционное применение анализатора спектра для измерения параметров ВЧ устройств сводится к классическому измерению нелинейных характеристик, таких как нелинейные искажения, точка пересечения по интермодуляционным составляющим 3-го порядка (TOI) или приведённый ко входу уровень паразитных составляющих. Одним из распространенных измерений нелинейных характеристик является измерение относительного уровня мощности в соседнем канале. Эти измерения позволяют прогнозировать чистоту спектра данного ВЧ устройства в присутствии нескольких приёмников или передатчиков…

 

Свежий номер
№ 3 Сентябрь 2021
КИПиС 2021 № 3
Тема номера:
Современная измерительная техника
События из истории измерений
Мы используем файлы 'cookie', чтобы обеспечить максимальное удобство пользователям.