English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(514)
Новости Anritsu(111)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(593)
Новости Metrel(17)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(74)
Новости Rohde & Schwarz(491)
Новости Tektronix(199)
Новости Texas Instruments(19)
Новости Yokogawa(89)
Новости Росстандарта(135)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Как оптимизировать измерения линейных искажений с помощью анализатора сигналов

Традиционное применение анализатора спектра для измерения параметров ВЧ устройств сводится к классическому измерению нелинейных характеристик, таких как нелинейные искажения, точка пересечения по интермодуляционным составляющим 3-го порядка (TOI) или приведённый ко входу уровень паразитных составляющих. Одним из распространенных измерений нелинейных характеристик является измерение относительного уровня мощности в соседнем канале. Эти измерения позволяют прогнозировать чистоту спектра данного ВЧ устройства в присутствии нескольких приёмников или передатчиков…

Автор(ы):  Боб Нельсон (Bob Nelson)
Номер журнала:  КИПиС 2016 № 1

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2019
КИПиС 2019 № 6
Тема номера:
Новинки измерительной техники
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений