English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(423)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(506)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(243)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(56)
Новости Rohde & Schwarz(384)
Новости Tektronix(179)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(90)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Как оптимизировать измерения линейных искажений с помощью анализатора сигналов

Традиционное применение анализатора спектра для измерения параметров ВЧ устройств сводится к классическому измерению нелинейных характеристик, таких как нелинейные искажения, точка пересечения по интермодуляционным составляющим 3-го порядка (TOI) или приведённый ко входу уровень паразитных составляющих. Одним из распространенных измерений нелинейных характеристик является измерение относительного уровня мощности в соседнем канале. Эти измерения позволяют прогнозировать чистоту спектра данного ВЧ устройства в присутствии нескольких приёмников или передатчиков…

Автор(ы):  Боб Нельсон (Bob Nelson)
Номер журнала:  КИПиС 2016 № 1

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 4 Август 2017
КИПиС 2017 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
23.09.1987
Формальная дата основания