English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Дэвид Бробст (David Brobst)


Книги этого автора



Статьи этого автора


Использование осциллографа смешанных сигналов для отладки устройств со смешанными сигналами на базе микроконтроллера

Номер журнала: КИПиС 2007 № 2

Обычно для тестирования и отладки систем смешанных сигналов на базе микроконтроллеров или цифровых процессоров сигналов инженеры используют осциллограф в связке с логическим анализатором. Однако использование осциллографов смешанных сигналов, по сравнению с таким подходом, обеспечивают ряд преимуществ. В данной статье рассмотрена типичная методология конфигурирования и отладки встроенных электронных устройств со смешанными сигналами на базе микроконтроллера.

 

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений