English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(458)
Новости Anritsu(99)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(532)
Новости Metrel(9)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(61)
Новости Rohde & Schwarz(418)
Новости Tektronix(189)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(79)
Новости Росстандарта(109)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Использование осциллографа смешанных сигналов для отладки устройств со смешанными сигналами на базе микроконтроллера

Обычно для тестирования и отладки систем смешанных сигналов на базе микроконтроллеров (microprocessor control unit — MCU) или цифровых процессоров сигналов (digital signal processors — DSP) инженеры используют осциллограф в связке с логическим анализатором. Но существует еще один класс приборов, так называемые осциллографы смешанных сигналов (mixed signal oscilloscope — MSO), которые по сравнению с таким подходом обеспечивают ряд преимуществ.

Чтобы проиллюстрировать эти уникальные преимущества MSO, в данной статье будет рассмотрена типичная методология конфигурирования и отладки встроенных электронных устройств со смешанными сигналами на базе микроконтроллера.

В этом случае осциллограф смешанных сигналов используется для контроля качества выходного аналогового импульсного сигнала с линейной частотной модуляцией (ЛЧМ), генерируемого микроконтроллером и связанным с ним периферийным оборудованием на основе различных входных воздействий: аналогового, цифрового или последовательного ввода/вывода (I2C).


Автор(ы):  Джонни Хэнкок (Johnnie Hancock) / Дэвид Бробст (David Brobst)
Номер журнала:  КИПиС 2007 № 2
Читать в PDF:  Читать

Возврат к списку


Материалы по теме:


При использовании материалов журнала «Контрольно-измерительные приборы и системы» ссылка на сайт www.kipis.ru обязательна.

Для просмотра файлов PDF может понадобиться Adobe Reader. Получить Adobe Reader бесплатно можно здесь.

Свежий номер
№ 3 Июнь 2018
КИПиС 2018 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.06.1895
День рождения ученого, получившего Нобелевскую премию по физике
26.06.1894
День рождения ученого, открывшего сверхтекучесть