English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(477)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(547)
Новости Metrel(14)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(441)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Емкость

Об Энциклопедии измерений
Поиск:  

Емкость C является неотъемлемым свойством любой системы проводников и характеризует ее свойства накапливать электрические заряды и создавать электрическое поле. Она измеряется в фарадах (Ф), миллифарада (1 мФ=10-3 Ф), микрофарадах (1мкФ=10-6 Ф), нанофарадах (1 нФ=10-9 Ф) и пикофарадах (1 пФ=10-12 Ф). Обычно емкость проявляет себя на переменном токе или при импульсных сигналах.

Конденсаторы – устройства для создания заданной емкости используются как готовые промышленные изделия либо создаются в виде пластин, разделенных диэлектриком в составе интегральных микросхем. Для увеличения емкости применяются системы из многих металлических обкладк достаточно большой площади, разделенных слоями диэлектрика. На этом основано устройство конденсаторов. Физически конденсатор является устройством для накопления заряда (Q=CU) и емкость является мерой накопленного заряда при заданном напряжении U на конденсаторе . Для линейной емкости справедливо выражение:

Если проинтегрировать это выражение, то можно получить выражение для напряжения на конденсаторе:

Если параллельно C включен резистор R, то заряд емкости (конденсатора) будет происходить по экспоненциальному закону с постоянной времени RC. Начальная часть этого процесса (для t<<RC) будет линейной. Это обстоятельство используется при построении простых генераторов развертки электронных осциллографов


Источник
А. А. Афонский, В. П. Дьяконов, Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике
Под ред. проф. В. П. Дьяконова, Москва, ДМК пресс, 2011


Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
12.12.1927
Родился американский инженер, один из изобретателей интегральной схемы (1959), один из основателей Fairchild Semiconductor (1957), основатель, совместно с Гордоном Муром, корпорации Intel (1968)
12.12.1843
День рождения
Конвертер единиц измерения