English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Тестирование устройств LTE с R&S®CMW500

Тестирование устройств LTE с R&S®CMW500

06.04.2013

В офисе Rohde&Schwarz проведены измерения LTE-WCDMA модема одного из заказчиков на радиокоммуникационном тестере R&S®CMW500 в режиме анализатора протоколов. Проверен сигнальный обмен при регистрации модема в сетях LTE/WCDMA, хэндовере между сотами LTE -> LTE и LTE -> WCDMA. По просьбе пользователя стандартный тест установления соединения в LTE был адаптирован - добавление второй несущей EPS дало возможность полноценно эмулировать поведение модема в сети оператора в режиме передачи данных с компьютера.

Широкие возможности тестера позволяют проводить одновременное тестирование радиочасти пользовательских устройств (точность по частоте, EVM, ...), сигнальный обмен и количественные показатели (например, максимальную скорость передачи данных).

Rohde & Schwarz


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"