English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель

Новые активные дифференциальные пробники для осциллографов R&S

Новые активные дифференциальные пробники для осциллографов R&S

21.11.2011

Выпущены новые активные дифференциальные пробники RT-ZD20 и RT-ZD30 для измерения несимметричных и симметричных сигналов с минимальным влиянием на измеряемую цепь. Пробники имеют полосы пропускания 1,5 ГГц и 3 ГГц, входное сопротивление постоянному току 1 МОм и входную емкость не более 0,6 пФ, коэффициент деления 1:10. Пробник RT-ZD20 рекомендуется применять с осциллографами RTM и RTO (600 МГц и 1ГГц), RT-ZD30 – c осциллографами RTO 2 ГГц. Также пробники могут использоваться совместно с анализаторами спектра и цепей Rohde & Schwarz с помощью адаптера RT-ZA9.

Основными особенностями пробника являются:

-микрокнопка для контроля осциллографа;
-встроенный вольтметр постоянного тока;
-малый уровень шумов (3 мВ);
-большой коэффициент подавления синфазной помехи (30 дБ).
Новые дифференциальные пробники поставляются с большим комплектом соединительных аксессуаров: проводами под пайку, подпружиненными крючками, адаптерами под ножки микросхем и т.д.

Для более подробной информации, пройдите по ссылке:
http://www.rohde-schwarz.ru/products/test_and_measurement/Oscilloscopes/RTO/Application/

Rohde & Schwarz

www.rohde-schwarz.ru


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"