English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(497)
Новости Anritsu(109)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(76)
Новости Keysight Technologies(573)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(72)
Новости Rohde & Schwarz(475)
Новости Tektronix(195)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(87)
Новости Росстандарта(133)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Тестирование устройств NFC с Rohde&Schwarz

Тестирование устройств NFC с Rohde&Schwarz

21.09.2012

Компания выпустила программное обеспечение FS-K112PC, поддерживающее анализ сигналов NFC с запрашивающего и отвечающего устройств. ПО может управлять анализаторами спектра R&S®FSV/R&S®FSL и осциллографом R&S®RTO с опцией RTO-K11. Может быть автоматически определен метод передачи (NFC-A, NFC-B или NFC-F), измерены параметры модуляции, длительность фронтов и задержка ответного сигнала, учтены параметры эталонных устройств NFC forum и произведено сравнение со стандартизированными ограничительными линиями на излучение.


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 4 Август 2019
КИПиС 2019 № 4
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
26.08.1873
Родился американский изобретатель, один из отцов "века электроники"