English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(530)
Новости Anritsu(113)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(78)
Новости Keysight Technologies(609)
Новости Metrel(19)
Новости National Instruments(265)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(77)
Новости Rohde & Schwarz(513)
Новости Tektronix(206)
Новости Texas Instruments(21)
Новости Yokogawa(102)
Новости Росстандарта(138)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

Встреча клуба радиоинженеров Rohde & Schwarz. Калибровка и деембендинг на векторных анализаторах цепей

Встреча клуба радиоинженеров Rohde & Schwarz. Калибровка и деембендинг на векторных анализаторах цепей

07.10.2019

Компания Rohde & Schwarz приглашает принять участие в заседании клуба радиоинженеров, которое пройдет 11 октября 2019 г. в Москве.

Адрес мероприятия: Нахимовский пр. 58 (м. Профсоюзная или Университет).

Программа мероприятия будет включать в себя обсуждение следующих тем:

  • Применение матриц и графов для анализа СВЧ-цепей;
    Позволит лучше понимать методики измерений, поверки и калибровки измерительных приборов СВЧ-диапазона.
  • Embedding / De-embedding;
    Компенсация кабелей, аттенюаторов, переходов, контактных устройств и другой измерительной оснастки, виртуальный подбор согласующих цепей;
  • Математическая модель векторного анализатора цепей;
    Структура и принципы работы векторного анализатора цепей.
  • Калибровка TOSM;
    Основная калибровка, используемая в ВАЦ. Проведение калибровки, добавление калибровочного набора.
  • Калибровка UOSM;
    Проведение 2-х портовой калибровки с неподключаемой перемычкой (коаксиал-волновод), многопортовые калибровки, калибровка в термо-вакуумных камерах.
  • Калибровка TRL.
    Калибровка на подложках, в волноводах, эталон волнового сопротивления (связь геометрических размеров с Z_0 и γ длинной линии).

Кроме этого будут проведены наглядные демонстрации на приборе высшего класса R&S®ZNA.

Зарегистрироваться для посещения семинара можно по данной ссылке.

www.rohde-schwarz.com


О компании:  Rohde & Schwarz

Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 3 Июнь 2020
КИПиС 2020 № 3
Тема номера:
Метрология
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала