English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(434)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(516)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Метрология–2010

Метрология–2010

22.10.2009

Приглашаем вас принять участие в 6-ой выставке-конкурсе средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010» и 2-ом Московском Международном симпозиуме метрологов, посвященных Всемирному Дню метрологии.

Коллективные экспозиции представят Государственные корпорации РОСНАНО, РОСАТОМ, ЖКХ; крупнейшие компании ОАО «ОАК», ОАО «РЖД», ОАО «Газпром», ОАО «Роснефть», Металлургические группы, ОАО «КАМАЗ»; Ассоциация строителей России, региональные ЦСМ и метрологические институты.

Московский Международный Симпозиум метрологов объединяет до 120 выступлений по актуальным темам в области метрологического обеспечения промышленных отраслей и свыше 2500 специалистов из 20 стран. 

Приборы и оборудование, представленные на Всероссийскую конкурсную программу «За единство измерений», проводимую на базе экспертных комиссий ФГУ «Ростест-Москва» и 32ГНИИИ МО РФ, будут номинированы на Золотую медаль «Метрология», Платиновую медаль «Продукция двойного назначения» и Сертификат «Знак Качества». 

Организатором мероприятий является Ростехрегулирование при содействии Правительства Российской Федерации, Минпромторга России, Роснауки, Роскосмоса, с участием ряда Международных и региональных организаций (BIPM, OIML, IMEKO, EURAMET, EOQ, COOMET, APLMF, APMP).


Подробнее о выставке «Метрология-2010» на сайте: www.metrol.expoprom.ru 

Репортаж с первого дня выстави и Симпозиума: http://kipis.ru/news/index.php?news=33934



Дата открытия:  18.05.2010
Дата закрытия:  20.05.2010
Место проведения:  Москва, ВВЦ, пав.55
Организаторы:  Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии

Возврат к списку

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
15.12.1852
день рождения
Выставки