English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(433)
Новости Anritsu(96)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(71)
Новости Keysight Technologies(515)
Новости Metrel(6)
Новости National Instruments(249)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(58)
Новости Rohde & Schwarz(392)
Новости Tektronix(184)
Новости Texas Instruments(17)
Новости Yokogawa(70)
Новости Росстандарта(95)
AKTAKOM
Anritsu
Fluke
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ - Измерительные приборы, виртуальные приборы, паяльное оборудование, промышленная мебель
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

2-ой Московский Международный симпозиум метрологов

2-ой Московский Международный симпозиум метрологов

17.05.2010

18 мая на ВВЦ состоится торжественное открытие 2-го Московского Международного симпозиума метрологов и 6-ая Международной выставки-конкурса средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования «Метрология-2010». Оба этих мероприятия посвящены Всемирному Дню метрологии и продлятся до 20 мая 2010 г.

Московский Международный Симпозиум метрологов объединяет до 120 выступлений по актуальным темам в области метрологического обеспечения промышленных отраслей и свыше 2500 специалистов из 20 стран.

Выставка «Метрология» - это более 200 компаний-участников из 14 стран мира, до 20 коллективных экспозиций федеральных агентств и ведомств, госкорпораций, крупнейших холдингов и объединений, более 50 региональных ЦСМ и метрологических институтов, свыше 6500 посетителей. Общая площадь выставки составляет более 4500 м.кв. и расположена на 2-х этажах павильона.

Общая информация о мероприятии

Дата проведения: 18-20 мая 2010 г.

Место проведения: г.Москва, ВВЦ (м.ВДНХ), павильон №55

План проезда к павильону и время работы: www.metrol.expoprom.ru/visit/total_info.php

Пригласительный билет: http://www.metrol.expoprom.ru/visit/ticket.php


На пленарном заседании Симпозиума планируется выступление официальных лиц:

  • В.Ю. Саламатов (Заместитель Министра промышленности и торговли РФ, МИНПРОМТОРГ России)
  • Г.И. Элькин (Педседатель оргкомитета симпозиума, д.э.н., Руководитель Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, Россия)
  • В.Н. Крутиков (д.т.н., Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии, Россия)
  • и другие

Также планируется выступление представителей Госстандартов стран СНГ (Украина, Белоруссия), представителей государственных регулирующих организаций Евросоюза и выступления представителей Метрологических организаций и Центров стандартизации, метрологии.

С подробной программой Московского Международного Симпозиум метрологов можно познакомиться на официальном сайте мероприятия: http://www.metrol.expoprom.ru/symposium/programm.php

Подробную информацию по выставке «Метрология-2010» можно найти на сайте: www.metrol.expoprom.ru



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 6 Декабрь 2017
КИПиС 2017 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
11.12.1882
День рождения