English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Девятая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010»

Девятая научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments – 2010»

30.11.2010

3-4 декабря 2010 года в Российском университете дружбы народов пройдет девятая международная научно-практическая конференция «Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabVIEW и технологии National Instruments - 2010». Традиционно конференция соберет более 350 инженеров, профессоров, преподавателей, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии. Организаторами конференции выступят Российский университет дружбы народов и филиал корпорации National Instruments в России, СНГ и Балтии.

На конференции будут рассмотрены применения инновационных технологий в образовательных, научных и инженерных приложениях, а также преимущества использования современного оборудования и программного обеспечения National Instruments.

В рамках конференции пройдет целый ряд мероприятий, начиная от пленарных заседаний, технических презентаций, секционных докладов, мастер-классов, дискуссий с экспертами, заканчивая выставкой и олимпиадой по программированию в LabVIEW.

Участники конференции представят коллегам свои решения и наработки в области образования, научных исследований и инженерных приложений в рамках технических секций по направлениям: промышленные решения, научно-исследовательские стенды, лабораторные практикумы и учебные стенды.

На технических саммитах специалисты National Instruments расскажут участникам о новинках компании для приложений в таких областях как связь и телекоммуникации, электроника и микроэлектроника, автоматизация исследовательских и испытательных стендов, системы управления и регуляторы, вибрация и акустика, беспроводные системы сбора данных, стационарные измерительные комплексы, АСУТП.

В рамках дискуссий с экспертами, участники конференции смогут обсудить вопросы, касающиеся создания уникальных продуктов и решений на базе технологий NI.

Более подробную информацию о конференции можно узнать на странице www.labview.ru/conference, по email conference.russia@ni.com или по телефону +7 (495)783-68-51.

www.ni.com/russia



Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения