English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(478)
Новости Anritsu(104)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(548)
Новости Metrel(15)
Новости National Instruments(259)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(70)
Новости Rohde & Schwarz(442)
Новости Tektronix(193)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(86)
Новости Росстандарта(123)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте

X Международная научно-практическая конференция «Инженерные, научные и образовательные приложения на базе технологий National Instruments - 2011»

X Международная научно-практическая конференция «Инженерные, научные и образовательные приложения на базе технологий National Instruments - 2011»

04.11.2011

8-9 декабря 2011 года в конгресс-центре МТУСИ пройдет X Международная научно-практическая конференция «Инженерные, научные и образовательные приложения на базе технологии National Instruments - 2011», организованная филиалом корпорации National Instruments в России, СНГ и Балтии и Российским университетом дружбы народов.

В конференции примут участие более 400 руководителей предприятий, инженеров, профессоров, научных сотрудников и студентов со всей России, стран СНГ и Балтии.

В программу конференции включены:

Пленарные выступления об успешных проектах в промышленности, области научных исследований и последних тенденциях в инженерном образовании.

Тематические секции, на которых участники конференции представят готовые решения в области инженерных приложений, образования и научных исследований. Вниманию участников представят более 80 докладов о применении LabVIEW и технологий NI по следующим направлениям:

  • Радиотехника и беспроводные технологии.
  • Электроника и микроэлектроника. 
  • Стендовые испытания и многоканальные системы сбора данных. 
  • Системы управления реального времени и системы аппаратно-программного моделирования. 
  • Промышленные системы мониторинга и АСУ ТП. 
  • Робототехника и мехатроника. 
  • Лабораторные практикумы и учебные стенды для школ и ВУЗов.
  • Автоматизация научного эксперимента. 

Дискуссии с экспертами и представителями образовательных центров NI по таким направлениям как «Инженерные стартапы», «Создание и реализация собственных продуктов на базе технологий NI».

Технические саммиты National Instruments с презентациями новинок компании в областях:

  • LabVIEW 2011. Новые возможности среды разработки. 
  • ВЧ-платформа NI для приложений связи и телекоммуникаций. 
  • Устройства сбора данных для автоматизации эксперимента.
  • Встраиваемые системы измерения и управления 
  • Практикумы по техническим дисциплинам. 
  • Междисциплинарная образовательная платформа NI ELVIS II. 
  • Модульные приборы PXI в радиоэлектронике.
  • Многоканальные системы измерения сигналов с датчиков для научных и испытательных стендов.

Интерактивные мастер-классы по направлениям:

  • Программирование в LabVIEW
  • Технологии NI в Робототехнике
  • Измерительные системы NI CompactDAQ
  • Обзор платформы NI ELVIS II и среды Multisim
  • Платформы для измерений сигналов с датчиков SC Express
  • ВЧ-платформа NI
  • Платформа NI CompactRIO

Так же в рамках конференции будет проведена Олимпиада по блиц-программированию в LabVIEW, организована выставка оборудования, решений National Instruments и ее партнеров, презентация книг по программированию в LabVIEW и, конечно же, награждение авторов самых интересных работ.

Для принятия участия в конференции необходимо пройти онлайн регистрацию на странице www.labview.ru/conference/registration.

National Instruments
www.ni.com/russia



Возврат к списку


Материалы по теме:

Обзоры и анонсы выставок
Энциклопедия измерений
Свежий номер
№ 6 Декабрь 2018
КИПиС 2018 № 6
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
19.12.1852
Родился американский физик, лауреат Нобелевской премии