English
Поиск по сайту
Новости AKTAKOM(474)
Новости Anritsu(103)
Новости Fluke(134)
Новости Keithley(74)
Новости Keysight Technologies(541)
Новости Metrel(13)
Новости National Instruments(257)
Новости NIST(0)
Новости Pendulum(20)
Новости Rigol(68)
Новости Rohde & Schwarz(433)
Новости Tektronix(192)
Новости Texas Instruments(18)
Новости Yokogawa(83)
Новости Росстандарта(122)
АКТАКОМ
Anritsu
FLUKE
Keithley Instruments
Keysight Technologies
METREL
National Instruments
NIST
RIGOL
Rohde & Schwarz
Spectracom
Tektronix
Texas Instruments
Yokogawa
Росстандарт
Авторизация
Логин:
Пароль:
Забыли свой пароль?
Зарегистрироваться
Реклама на сайте
АКТАКОМ – победитель конкурса "Best in Test"!

Интервью с Ги Сене (Guy Séné), Старшим Вице-президентом группы электронных измерений новой компании Keysight Technologies

Интервью с Ги Сене (Guy Séné), Старшим Вице-президентом группы электронных измерений новой компании Keysight Technologies

01.07.2014

25 июня, в офисе компании Agilent Technologies (Keysight Technologies), Москва, состоялась встреча с господином Ги Сене (Guy Séné), Вице-президентом группы электронных измерений, который любезно согласился дать интервью для нашего журнала.

В преддверии разделения компании мы не могли не поинтересоваться мнением относительно продукции компании, направлений, в которых она будет двигаться и дальнейших перспектив.

Полное интервью Вы сможете прочитать в августовском номере нашего журнала – КИПиС №4.

Следите за новостями нашего сайта! Будьте в курсе событий из мира измерительной техники!



Возврат к списку


Материалы по теме:

Свежий номер
№ 5 Октябрь 2018
КИПиС 2018 № 5
Тема номера:
Современная измерительная техника
Подписаться на журнал
WEB-приложение для подписчиков журнала
События из истории измерений
22.10.1905
День рождения